作者:-1????發(fā)布時間:2023-03-26 14:41 ????瀏覽次數(shù) :
5.1 Wear-leveling Simulation
我們運行IOzone(由于其高cleaning率)來研究上述的耗損均衡算法。對于我們的實驗,我們將閃存塊的壽命從100K減少到50個循環(huán),以便 ageRariance(設置為20%)和 retirementAge(設置為85%)閾值變得相關。表7和 表 8 介紹了3種不同技術的結果:貪婪算法,貪婪的cleaning速率限制磨損的塊,貪婪的cleaning速率限制和冷數(shù)據(jù)遷移。雖然平均塊壽命在各種技術中是相似的,但調(diào)用遷移會在運行結束時提供更小的剩余塊壽命標準偏差。此外,通過遷移,沒有塊到期(例如,超過擦除限制的塊)。由于簡單的貪婪技術不執(zhí)行任何速率限制,因此當使用速率限制時,與沒有速率限制相比,更少的塊到期。表 8列出了平均值周圍閃存塊壽命的分布??梢钥闯?,冷數(shù)據(jù)遷移提供了比其他選項更好的聚類。
跨塊遷移冷頁的成本會產(chǎn)生與工作負載相關的性能成本。我們對IOzone的損耗均衡模擬涉及每個package7902次遷移,這增加了4.7%的平均I / O操作延遲開銷。